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簡要描述:TH2826A TH2826 LCR數(shù)字電橋是符合 LXI 標準的新一代阻抗測試儀器,其 0.1% 的基本精度、 20Hz ~ 5MHz 的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求,可測量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測量??捎糜谥T如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析。
TH2826A TH2826 LCR數(shù)字電橋
簡介
TH2826 系列元件測試儀是符合 LXI 標準的新一代阻抗測試儀器,其 0.1% 的基本精度、 20Hz ~ 5MHz 的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求,可測量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測量。可用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析。
TH2826 系列產品是電子元器件設計、檢驗、質量控制和生產測試強有力的工具。其超 高速的測試速度使其特別適用于自動生產線的點檢機,壓電器件的頻率響應曲線分析等 等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家的不同標準需求。TH2826 系列產品 以其性能可以實現(xiàn)商業(yè)標準和標準如 IEC 和 MIL 標準的各種測試。
應用
■ 無源元件
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析
■ 半導體元件
LED驅動集成電路寄生參數(shù)測試分析;變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
■ 其它元件
印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
■ 介質材料
■ 磁性材料
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
■ 半導體材料
半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性
■ 液晶單元
介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
■ 介質材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
■ 磁性材料:
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
■ 半導體材料:
半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性液晶材料:
■ 液晶單元:
介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性分析
性能特點
■ 符合LXI標準
■ 測試頻率20Hz~5MHz,10mHz步進
■ 測試電平10mV~5V, 1mV步進
■ 基本準確度0.1%
■ 最高達5ms的測量速度
■ 320×240點陣大型圖形LCD顯示
■ 10點多參數(shù)列表掃描功能
■ 圖形化掃描功能
■ 四種信號源輸出阻抗
■ 10檔分選功能,分選結果聲音報警
■ 存儲空間:20組設定文件,USB擴展
TH2826A TH2826 LCR數(shù)字電橋技術參數(shù)
產品型號 | TH2826 | TH2826A |
顯示 | 320×240點陣大型圖形LCD顯示 | |
基本測量準確度 | 0.1% | |
測試頻率 | 20Hz - 5MHz,10mHz步進 | 20Hz - 2MHz,10mHz步進 |
AC信號電平 | 10mVrms - 5Vrms | |
信號源輸出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
RDC源內阻 | ------ | |
DC偏置 | 內置: 0V - ± 5V;0mA - ± 100mA,外接最大40A | |
電壓源 | ------ | |
測試參數(shù) | L、C、R、Z、D、Q、Y、G、X、B、θd、θr、RDC、Vm、Im | |
測試速度 (ms) | 快速:5ms(f>30kHz),10ms(f>1kHz)、中速: 40ms, 慢速: 200ms | |
列表掃描 | 10點,掃描參數(shù): 測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流 | |
圖形掃描分析 | 頻率、ACV、ACI、DCV BIAS/DCI BIAS、直流電壓源, 51、101、201、401、 801點可選,掃描圖 形可存儲于儀器內部FLASH、外部USB或上傳上位機 | |
通用功能 | 串、并聯(lián)等效模式,測試電纜長度:0、1m,平均:1-255次,校準:開路、短路、負載,ALC功能 量程選擇:自動、手動,觸發(fā)模式:INT、MAN、EXT、BUS,鍵盤鎖定功能 | |
功能 | 數(shù)據(jù)保存、截屏功能、2m/4m測試電纜擴展(選件) | |
比較器 | 10檔分選, PASS/FAIL指示,檔計數(shù)功能 | |
存儲 | 20組儀器內置設定文件,USB擴展 |
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